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行业资讯
电子产品特定有害物质测定标准IEC 62321发布2013版本
来源:本站    发布日期:2013-10-17    已有 5460 人浏览

IEC 62321-1-2-3-1-3-2-4-52013版已通过最终国际标准版草案(FDIS) 阶段,目前已正式公布。有关电子产品中特定有害物质测定的标准- IEC 62321,概述了电子产品的测试方法,以确定产品中的有害化学物质浓度低于欧盟有害物质限制指令(RoHS)法律中制定的有害化学物质浓度。如同以往,2008版的IEC 62321标准也经过了一段维护周期,现今再将最佳的操作和先进的技术引入测试程序,以确保实验的一致性和可靠度,满足标准的制定。具体内容见下表:

IEC 标准

范围

62321-1

简介和概述

62321-2

样品的拆卸、拆解和机械拆分

62321-3-1

使用X射线荧光光谱仪对电子产品中的铅、汞、镉、总铬和总溴进行筛选

62321-3-2

使用C-IC对聚合物和电子产品中的总溴进行筛选

62321-4

使用CV-AASCV-AFSICP-OESICP-MS测定聚合物、金属和电子材料中的汞

62321-5

使用AASAFSICP-OSICP-MS确定聚合物和电子材料中的镉、铅和铬,以及金属中的镉和铅

2013版的最主要变化在于将文件拆分成一系列标准,以利标准维护,同时导入新的测试方法或仪器,例如燃烧- 离子层析仪(C-IC) 和冷蒸汽原子荧光光谱仪(CV-AFS) 
    在完成上述系列标准之后,目前还有另外四份标准正处于不同草案编制阶段; PBB/PBDE (IEC 62321-6)、六价铬(IEC 62321-7-1-2) 以及邻苯二甲酸酯(IEC 62321-8) 的测试方法。 
这些标准预计公布日期如下:
■ 2014
2- IEC 62321-6
■ 2014
4- IEC 62321-7-1
■ 2014
11- IEC 62321-7-2
■ 2015
3- IEC 62321-8

作者:Admin
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